报告题目：同步辐射SXS谱学应用及发展

报告人：姜政 研究员、教授

报告时间：2019年06月04日 下午14:00

报告地点：医学楼402栋一楼A101会议室

报告摘要：

        X射线吸收精细结构（XAFS）方法是随着同步辐射发展起来的独特技术，是研究材料局域原子结构和电子结构的一种重要方法。报告对XAFS的基本原理和主要的实验方法进行了概述，介绍了能源与环境中的应用。

报告人简介：

    姜政，中国科学院上海高等研究院,中国科学院上海应用物理研究院研究员，博士生导师。现为上海光源线站工程谱学分总体负责人，经理助理，X射线吸收谱学线站负责人，材料与能源科学部副主任，北京同步辐射装置用户委员会委员。姜政研究员毕业于中国科学技术大学同步辐射及应用专业，获得博士学位，并分别于2007、2013年作为高级访问学者前往Australian Synchrotron和BESSYII HZB交流学习。现工作主要涉及同步辐射原位XAFS技术及时间分辨技术在纳米能源材料中的应用，及上海光源二期项目吸收谱学线站建设工作。与合作者在Nature, Nat. Chem., Nat. Commun., J. Am. Chem. Soc., Angew. Chem. Int. Ed., Nano Energy, Adv. Funct. Mater.等国际期刊上共发表200余篇研究论文，被引3000余次。

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