“苏集创”18新利体育 创新成果推介(24)——开放许可专利(第一辑)

发布者:柳鑫发布时间:2022-10-28浏览次数:21

作为首批国家知识产权试点高校及高校科技成果转化和技术转移基地,为积极响应国家政策,切实落实《国家知识产权局办公室关于印发专利开放许可试点工作方案的通知》和《江苏省知识产权局关于征集实施开放许可专利的通知》要求,扎实开展专利开放许可工作,进一步提升专利转化成效,更好地发挥高校服务经济和社会发展的职能,促进高校科研成果赋能产业发展。

 

18新利体育 征集遴选了一批开放许可专利面向社会公开发布,我们也将陆续向大家介绍这批专利,敬请关注!本期推出【第一辑】:


1、一种基于表面等离子激元共振的折射率测试及其制作方法

专利号:ZL201711291796.0

专利权人:18新利体育

发明人:吴绍龙 李孝峰 秦琳玲 李刘晶 李亮


开放许可信息:

许可期限:4

支付方式:一次总付

价格:1.00万元


专利摘要:本发明公开了一种基于表面等离子激元共振的折射率测试及制作方法,其特征在于:其结合以自组织排列的聚苯乙烯球阵列为模板,通过沉积与去除工艺制备金属微纳结构、介质薄膜层和金属薄膜层的叠层结构,所述叠层结构具有与背景物质折射率相关的表面等离子激元共振峰位,据此可以测试出背景物质的折射率。本发明所公开的基于表面等离子激元共振的折射率测试及制作方法,利用金属微纳结构、介质薄膜层和金属薄膜层所构筑的叠层结构的表面等离子激元共振的特征峰,实现背景氛围物质折射率的低成本、快速、精准测试。

 

2、一种金纳米块阵列的制备方法及其折射率传感器

专利号:ZL201811041364.9

专利权人:18新利体育

发明人:吴绍龙 李亮 李孝峰 李刘晶 秦琳玲

 

开放许可信息:

许可期限:4

支付方式:一次总付

价格:1.50万元


专利摘要:本发明涉及一种金纳米块阵列的制作方法及其折射率传感器的制备,涉及微纳尺度的制备及微纳光学,属光信息领域;提出了一种金纳米块阵列的制备方法,将负载了聚电解质层的金薄膜浸入含有所述金纳米块的去离子水溶液中;去离子水溶液中的金纳米块通过静电场引力吸附于所述聚电解质层表面,从而得到金纳米块阵列;实现了金纳米块的边长、金纳米块阵列的占空比、聚电解质层的厚度的可控加工;由于在制备过程未使用任何微纳加工或精密控制设备,制备成本相较其他方法要低;本方案制备的折射率传感器利用该结构激发等离子激元共振,利用峰位随背景折射率变化而出现明显移动实现了对环境折射率的传感探测,金材质的稳定性保证了该传感器的性能稳定。

 

3、一种柱面及柱面汇聚镜的检测方法及装置

专利号:ZL201610504450.3

专利权人:18新利体育

发明人:郭培基 陈曦


开放许可信息:

许可期限:5

支付方式:一次总付

价格:1.00万元


专利摘要:本发明公开了一种柱面及柱面汇聚镜的检测方法及装置,涉及光学仪器检测技术领域,特别是涉及一种非接触式干涉检测柱面面形的方法,本发明的技术方案使用两块能将平行光调制成柱面光波的汇聚镜分别与待测柱面组合,测试获得带有汇聚镜和待测柱面的组合波面误差数据,然后将两块柱面汇聚镜组合,获得两块柱面汇聚镜的组合波面误差数据,使用差分算法以及波面复原算法分别获得待测柱面以及两个柱面汇聚镜的面形误差数据,本技术方案具有检测光路简单,不需要使用高精度的测量好的检具即可实现对柱面较高精度的面形检测,特别适合光学加工领域中的柱面加工。

 

4、一种凹柱面及柱面发散镜的检测方法及装置

专利号:ZL201610504619.5

专利权人:18新利体育

发明人:郭培基 陈曦


开放许可信息:

许可期限:5

支付方式:一次总付

价格:1.00万元


专利摘要:本发明公开了一种凹柱面及柱面发散镜的检测方法及装置,涉及光学仪器检测技术领域,特别是涉及一种非接触式干涉检测柱面面形的方法,本发明的技术方案分别使用柱面汇聚镜与柱面发散镜与待测凹柱面组合,通过干涉测量分别获得柱面发散镜和待测凹柱面的组合波面误差数据以及柱面汇聚镜和待测凹柱面的组合波面误差数据,然后通过干涉测量获得柱面发散镜与柱面汇聚镜组合波面误差数据,使用差分算法以及波面复原算法分别获得待测凹柱面、柱面发散镜以及柱面汇聚镜的面形误差数据,本技术方案具有检测光路简单,不需要使用高精度的实现测量好的检具即可实现对柱面较高精度的面形检测,特别适合光学加工领域中的柱面加工。

 

5、一种用于光学加工抛光的标示方法

专利号:ZL201410006382.9

专利权人:18新利体育

发明人:陈曦 郭培基 王伟 范建彬


开放许可信息:

许可期限:5

支付方式:一次总付

价格:1.00万元


专利摘要:本发明公开了一种用于光学加工抛光的标示方法,包括如下步骤:1.获得被测工件的假彩图;2.在假彩图上添加标记点,并记录其坐标;3.在假彩图和被测工件上各设置四个定位点,并根据定位点的位置得到坐标变换关系;4.根据坐标变换关系进行变换;5.使用标示装置在被测工件上标示需要加工的位置。本发明可实现自动标示,避免人为标记定位误差,特别适用高精度光学元件的加工。