日前，纳米科学技术学院 Mario Lanza教授课题组在Nature Electronics上发表了题为“Scanning probe microscopy for advanced nanoelectronics”的展望性论文，分析了扫描探针显微镜（SPM）在纳米电子研究领域中的未来。文章一经公开便引起了业内专家的广泛关注。
该论文的第一作者是惠飞博士，她是纳米科学技术学院2018届毕业博士生，目前正在以色列理工学院从事博士后研究。Lanza教授介绍说：“惠飞博士是我见过最熟练操作SPM的研究人员，她具有丰富的经验，并有能力去调控实验过程中的参数以获得独特的纳米电子现象。我可以肯定地说，惠飞博士将会成为国内基于SPM纳米电子表征领域最优秀的专家之一”。
目前，Lanza教授课题组正积极和不同的SPM制造商合作，以致力于提高和扩展SPM的功能和应用。在本文中，惠飞博士和Mario Lanza教授提出了一种新型的SPM设备，将不同类型/功能的纳米探针相结合，可在真空环境中同时完成纳米制备和纳米表征。（如下图）
文章免费查看链接：https://rdcu.be/bG4oz
此外，Nature Electronics在一篇关于纳米电子领域的尖端计量和仪器的社论中，对该文章进行了亮点报道（报道链接：https://www.nature.com/articles/s41928-019-0269-3）。
Mario Lanza教授长期从事SPM纳米电子研究，他曾先后在英国、德国、美国、西班牙和中国开展了相关学习和工作，使用过20种在不同环境下工作的SPM设备，具有丰富的实验经验。2017年，受Wiley-VCH出版社邀请，他出版了题为“Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials”的专业论著，介绍了采用导电原子力显微镜（CAFM）作为重要的研究工具，在纳米尺度对材料和器件的电学特性进行研究。
更多信息详见Mario Lanza教授课题组网页：https://lanzalab.com/